摘要
硅砂是我公司玻璃生产用量最大且最重要的原料 ,一直采用化学方法分析 ,具有取样量少、分析结果代表性差、不稳定且分析时间长的缺点。为改变硅砂分析现状 ,适应生产要求 ,经过多次实验 ,以粉末压片 ,利用X4 4软件中的函数功能成功实现了硅砂分析过程元素间的经验a系数校正 ,SiO2 的含量采用差减法求出 ,从而达到用X荧光分析硅砂的目的 ,提高了分析结果的代表性及准确性 ,降低了分析难度 ,缩短了分析时间。
出处
《玻璃与搪瓷》
CAS
北大核心
2003年第2期38-40,共3页
Glass & Enamel
