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扫描隧道显微镜和原子力显微镜

Scanning Tanneling Microscope and Atomic Force Microscope
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摘要 介绍了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)的原理和目前情况。 This paper briefs the principle and some advance of scanning tunneling microscope (STM) and atomic force microscope (AFM).
作者 夏国鑫
出处 《光学仪器》 1992年第4期28-34,共7页 Optical Instruments
关键词 扫描隧道 显微镜 原子力显微镜 Scanning Tunneling Microscope Atomic Force Microscope
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