摘要
介绍了扫描隧道显微镜(STM)和原子力显微镜(AFM)的原理和目前情况。
This paper briefs the principle and some advance of scanning tunneling microscope (STM) and atomic force microscope (AFM).
出处
《光学仪器》
1992年第4期28-34,共7页
Optical Instruments
关键词
扫描隧道
显微镜
原子力显微镜
Scanning Tunneling Microscope
Atomic Force Microscope