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直流等离子体-中阶梯光栅光谱仪测定高纯氧化镧、氧化钇中稀土杂质 被引量:3

DCP ATOMIC EMISSION SPECTROMETRIC DETERMINATION OF RARE EARTH IMPURITIES IN HIGH PURITY LATHANUM OXIDE AND YTTRIUM OXIDE BY USING ECHELLE GRATING SPECTROMETER
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摘要 本文采用中阶梯光栅光谱仪,直流等离子体光谱法测定高纯(99.99%)氯化镧、氧化钇中稀土杂质元素,由于仪器具有很高的色散率,因而方法具有灵敏度高、干扰少的特点。 A DCP-AES method is proposed for the determination of rare earth impurities in high purity La_2O_3 and Y_2O_3 by the use of Echelle grating spectrometer. Due to the high dispersion of the instrument, high sensitivity and few interfetence are the features of the method.
作者 张俊芬
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1992年第3期71-73,共3页 Spectroscopy and Spectral Analysis
关键词 氧化镧 氧化钇 稀土杂质 ICP-AES Lanthanum oxide, Yttrium oxide, Rare earth impurities, Direct current plasma,Atomic emission spectrometry
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献2

  • 1许录,分析化学,1983年,11卷,9期,702页
  • 2曾云鹗,高等学校化学学报,1982年,3卷,37页

共引文献2

同被引文献268

引证文献3

二级引证文献15

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