期刊文献+

基于混沌搜索的组合电路测试生成算法 被引量:1

A Test Generation Algorithm Based on Chaotic Searching
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 基于组合电路测试生成的离散Hopfield神经网络模型,将混沌搜索与Hopfield网络的梯度算法相结合,利用混沌搜索的内随机性及遍历性来克服梯度算法易于陷于局部极小的缺点,形成一种具有全局搜索能力的测试生成有效算法。该算法综合了随机性和确定性算法的优点,其性能优于一般的随机性算法。实验结果验证了该测试生成算法的有效性。 Based on a Hopfield neural network model for combinational circuit test generation, a test generation algorithm with global searching ability is proposed. This algorithm is the combination of chaotic searching with gradient algorithm. By means of the inherent stochastic and ergodic property of chaotic searching, the problem of being trapped in local minimum of gradient algorithm can be solved. The proposed algorithm has the advantages of both stochastic and deterministic algorithms. the performance of proposed algorithm is superior to ordinary stochastic algorithm. The experimental results confirm the effectiveness of the algorithm.
出处 《电路与系统学报》 CSCD 2002年第4期108-111,共4页 Journal of Circuits and Systems
基金 国防科技预研基金资助项目
关键词 混沌搜索 组合电路 神经网络 测试生成 优化算法 集成电路 chaos neural network combinatorial circuit test generation optimization algorithm
  • 相关文献

参考文献14

  • 1Fujiwara H,et al.The complexity offault detection problem for combination circuits [J].IEEE Trans.OnComp.,1982,C-31(6):555-560.
  • 2Chakradhar S T,et al.Automatic test generation using neural networks[A].IEEEInt.Conf.On CAD[C],1988,416-419.
  • 3Chakradhar S T,et al.Toward massively parallel automatic test generation[J].IEEETrans.On CAD,1990,9(9):981-994.
  • 4Chakradhar S T,et al.Energy minimization and design for testability[J].JElec.Testing: Theory and Application ,1994,5(1): 57-66.
  • 5Fujiwara H,et al,Three-valued neural networks for test generation[J].IEEEInt.Symp.On Fault-Tolerant Computing,1990,64-71.
  • 6Arai M,Nakagawa,Kitagawa H.An approach to automatic test pattern generation usingstrictly digital neural networks[A].IEEE Int.Joint Conf.on neuralnetworks[C],1992,474-479.
  • 7张中,魏道政.逻辑电路神经网络模型[J].电子学报,1993,21(8):77-81. 被引量:8
  • 8Guangju C,Li Weiming.Building expert system based on neural network forICCAT[J].Chinese J.of Electronics,1994,3(2):92~96.
  • 9潘中良,陈.电路测试生成的神经网络方法研究[J].电路与系统学报,1996,1(4):39-43. 被引量:2
  • 10潘中良.数字电路测试的神经网络方法的研究与实现[D].电子科技大学博士论文,1997.

二级参考文献6

  • 1潘中良.数字电路测试的神经网络方法的研究与实现:博士论文[M].电子科技大学,1997..
  • 2张中,1991年
  • 3潘中良,博士学位论文,1997年
  • 4陈国良,遗传算法及其应用,1996年
  • 5陈光禹,数据域测试及仪器,1994年
  • 6张光澄,最优化计算方法,1989年

共引文献17

同被引文献6

  • 1李鸣,彭大海,高娜,魏震生.基于混沌和遗传算法的优化测试生成算法[J].微计算机信息,2005,21(08X):125-126. 被引量:9
  • 2Fujiwara H, Toida S. The complexity of fault detection problem for combinational logic circuits [C]. Computers, IEEE Transactions on Volume C-31,1982, c-31: 555-560.
  • 3Chakradhar S T, Bushnell M L, Agrawal V D. Automatic test generation using neural networks [C]. Digest of Technical Papers, IEEE International Conference on 7-10, 1988, 416-419.
  • 4Fayyazi M, Navahi Z. Using vhdl model for automatic test generation [A]. Spain IEEE symposium on hardware modeling [C]. 1997.
  • 5Yong chang kim, Vishiwani Agrawal, Kewal K. Saluja. Multiple faults:modeling,simulation and test [C].Proceeding of the 15th international conference on VLSI design, 2002,24-26.
  • 6刘晓东,孙圣和.基于遗传算法的自适应测试生成[J].微电子学与计算机,2002,19(3):14-16. 被引量:8

引证文献1

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部