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基于数字测试系统的RF IC芯片测试扩展

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摘要本文介绍如何扩展低端IC测试系统，使其具备13.56MHz RF IC卡芯片批量测试能力，为一些IC设计或测试企业利用现有低端数字测试系统，降低RF IC卡测试成本提供一种可能的选择。

作者鹿梅赵龙

机构地区上海市集成电路设计研究中心

出处《集成电路应用》 2002年第12期43-46,共4页 Application of IC

关键词数字测试系统 RF IC卡调制解调接口

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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集成电路应用

2002年第12期

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