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焦平面阵列红外成像设备噪声特性分析及仿真 被引量:5

Noise analysis and simulation of FPA infrared imaging device
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摘要 红外成像设备噪声分析及仿真是红外图像仿真工作的重要组成部分。分析了焦平面红外成像设备的噪声组成及特性。焦平面红外成像设备的噪声可以分解为非均匀性噪声、非均匀性漂移噪声和随机噪声。分别针对凝视红外成像设备和扫描红外成像设备分析了噪声成分的计算过程及数字特征。根据实测图像数据可提取非均匀性噪声矩阵(或向量)、非均匀性漂移噪声特征参数矩阵、随机噪声特征参数矩阵(或向量)。非均匀性漂移噪声短时间内服从线性变化关系。随机噪声服从正态分布。最后给出了基于实测噪声特征数据的焦平面阵列成像设备的噪声仿真过程。 :Noise analysis of infrared imaging device is one of important components of infrared image simulation.The components and characteristics of noises for FPA infrared imaging device are analyzed in the paper.These noises can be decomposed into non-uniformity noise,non-uniformity excursion noise and random noise.The calculation process and the digital feature of the noise of staring imaging device and scanning imaging device are analyzed.The non-uniformity noise matrix (or vector),characteristic parameter matrix of non-uniformity excursion noise,characteristic parameter matrix (or vector) of random noise can be calculate from test image data.Non-uniformity excursion noise obeys the linear relationship in a short time.Random noise obeys normal distribution.The noises simulation process of FPA base on test noise data is presented.
作者 樊宏杰 邹前进 刘连伟 姚梅 陈洁 FAN Hong-jie;ZOU Qian-jin;LIU Lian-wei;YAO Mei;CHEN Jie(Luoyang Electronic Equipment Test Center,Luoyang 471003,China)
出处 《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 2019年第7期855-860,共6页 Laser & Infrared
基金 国家自然科学基金项目(No.11504420)资助
关键词 焦平面红外成像 非均匀性噪声 非均匀性漂移噪声 随机噪声 FPA infrared imaging non-uniformity noise non-uniformity excursion noise random noise
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