期刊文献+

SiC基GaN激光划片工艺研究 被引量:1

Research on Stealth Dicing for GaN Device on SiC Substrate
原文传递
导出
摘要 介绍了一种SiC基GaN激光划片工艺。通过对划痕形貌、裂片效果、热效应和装配适应性四方面的分析,在几种氮化镓激光划片试验中优化得出高质量划切工艺,并通过小批量生产证明新工艺在良率、效率方面有一定的优势。 A laser dicing process for GaN on SiC substrate was presented in this paper. In different designs of laser dicing experiment, surface morphology, chipping ratio, heat impact and assemble quality were care{ully evaluated, and then an optimal singulation process was obtained.It was shown by small-batch production that the process has advantages in production yield and efficiency.
出处 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2017年第1期57-62,72,共7页 Research & Progress of SSE
关键词 氮化镓高电子迁移率晶体管 碳化硅衬底 激光划片 隐形切割 划痕 GaN HEMT SiC substrate laser dicing stealth dicing kerf
  • 相关文献

同被引文献3

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部