CsI/Au膜系的热稳定性

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摘要本文利用 Ar^+离子剥离技术,对423温度处理前后的 CsI/Au 样品作了 xps 分析,同时作了 CsI/Au/LiF 光电发射测量,并与文献报导的 CsI/Ni 以及 CsI/Ni/LiF 的研究结果作了分析比较,表明了 CsI/Au 热稳定性优于 CsI/Ni,用 Au 作为 CsI 导电衬底,将有利于远紫外探测器在复杂的空间温度环境中保持高的信噪比。

作者刘元震

机构地区华东工学院光电技术系

出处《真空电子技术》北大核心 1991年第1期1-3,共3页 Vacuum Electronics

关键词 CSI/AU膜热稳定 XPS分析

分类号 O484.4 [理学—固体物理]

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