期刊文献+

场离子显微镜原子探针在材料科学中的应用

THE APPLICATION OF FIELD ION MICROSCOPE ATOM PROBE FOR MATERIALS SCIENCE
原文传递
导出
摘要 本文将场离子显微镜原子探针(FIM-AP)应用于材料微结构研究,包括氢与难熔金属表面相互作用及在奥氏体不锈钢中扩散、掺杂钨丝晶界观察、Mo 合金短程有序化及磁性材料沉淀相结构研究。讨论了 FIM-AP 在材料科学研究中应用的前景和存在问题。 The purpose of the present work is to introduce the principlesof field ion microscope-atom probe(FIM-AP)and the results of application tostudy the microstructure of materials.It includes the interaction between hydro-gen and the surface of refractory metal,the absorption and diffusion of hyd-rogen in the austenitic stainless steel,the observation of crystal boundary inthe doped tungsten wires,the short range order of Mo-W alloy and the stud-ies of precipitate phase in the magnetic materials.
作者 任大刚
出处 《材料科学进展》 CSCD 1989年第6期523-529,共7页
基金 国家自然科学基金 5860281
关键词 场离子显微镜 原子探针 金属材料 ion microscope atom probe microstructure
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部