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电子探针X—射线微区分析的原理及其应用
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摘要
一、前言陶瓷是由多种相组成的不均匀制品,化学分析得出的数据只能反映整个制品情况,并不能分析出制品内部某一特殊相的化学成份,而利用电子探针就可实现这一目的。扫描电子显微镜配上X—射线波长色散谱仪即可在观察形貌的同时分析所含元素的情况。
作者
胡晓洪
机构地区
轻工业部陶瓷工业科学研究所
出处
《陶瓷研究》
1991年第1期48-52,共5页
Ceramic Studies
关键词
陶瓷
电子探针
化学成分
分类号
TQ174.18 [化学工程—陶瓷工业]
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陶瓷研究
1991年 第1期
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