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未知点阵晶体测定系统的实现与应用 被引量:5

Implement and application of a crystal lattice determination system
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摘要 随着计算机技术的快速发展 ,越来越多的仪器采用计算机进行辅助分析。但是由于存在一定的困难 ,电子衍射谱的数据测量仍然处于手工操作阶段 ,测量过程十分繁琐 ,所得数据误差较大 ,不能适应在线分析的要求。本文针对这一问题 ,重点研究计算机自动识别电子衍射谱的算法 ,合理运用图像处理技术对衍射谱图像进行处理 ,旨在没有人为干预的情况下 ,实现自动、快速、精确地识别与测量电子衍射谱 ,为后续的分析软件提供电子衍射数据 ,并完成衍射谱的标定实验证明 ,由计算机自动识别和测量的数据符合所需的精度要求 ,完全能够在实际工作中应用。本软件使用VisualC ++编制 。 With the development of computer more and more instruments use the computer for imaging analyse, but the measurement of data of diffraction pattern is usually accomplished by hand. This paper described a computer aided system to process the diffraction pattern and to measure the data automatically. It has been proved by experiments that the data acquisition by computer can be accorded to the requirement of the measurement precision. And this system can be applied to the practical job. This software has been programmed by Visual C++. It has a good interface and can be manipulated easily.
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 北大核心 2002年第1期76-80,共5页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
关键词 电子衍射谱 计算机识别 图像处理 未知点阵晶体 测定 electron diffraction pattern computer recognition image processing error analysis
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Hirsch P.薄晶体电子显微学[M].北京:科学出版社,1983.123-127.
  • 2胡明超.硕士论文[M].天津:天津大学研究生院,1997.23-24.
  • 3Gonzalez R C.数字图像处理[M].北京:科学出版社,1983.140-143.

同被引文献23

引证文献5

二级引证文献12

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