Thickness Determination of Silicon Detectorsand Calibration of CsI(TI)
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1魏志勇,段利敏,吴和宇,靳根明,李祖玉,张保国,王宏伟,肖志刚,柳永英,王素芳,诸永泰,胡荣江.半导体探测器的厚度确定及CsI(Tl)的刻度[J].核技术,2001,24(6):468-472. 被引量：4
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2Chen Ruofu, Li Songlin, Xu Hushan, Xiao Guoqing and Zhan Wenlong.Successful Growth of CsI(Tl) and Pure CsI[J].近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报：英文版,2004(1):179-179.
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3王高昇,诸永泰,王晓明,李松林,王琦.CsI(TI)闪烁探测器用于粒子鉴别[J].高能物理与核物理,1989,13(5):440-444. 被引量：3
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4叶邦角,范为,范扬眉,邢士林,王忠民,梅文,虞孝麒,韩荣典,杨衍明,肖振喜.一个CsI（T1）探测器脉冲形状分辨p、α和γ的电路[J].核电子学与探测技术,1994,14(3):129-134. 被引量：3
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5爱民.碘化铯光阴极技术成熟[J].高能物理参考资料,1996(4):12-13.
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6Chen Ruofu, Fan Ruirui, Li Songlin, Xu Hushan, Xu Huagen Sun Zhiyu, Yu Yuhong and Xiao Zhigang.Test of CsI(Tl) Crystal for γ Measurement[J].近代物理研究所和兰州重离子加速器实验室年报：英文版,2005(1):148-148.
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7LI Shu-Wei,WANG Yi,LI Jin,LI Yuan-Jing,KANG Ke-Jun,LIN De-Xu,ZHANG Qing Jun.Monitoring the energy variation of an electron linac using a Cerenkov detector[J].Chinese Physics C,2010,34(1):126-130. 被引量：1
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8Jin Zengxue Chen Zhiqiang Han Rui Lin Weiping Liu Xingquan Zhang Suyalatu Liu Jianli Shi Fudong.5 - 17 Study of CsI（TI） Scintillation Detector＇s Properties for Gamma-ray Measurement[J].IMP & HIRFL Annual Report,2012(1):236-237.
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9石国柱,李松林,胡强,李恒远.CSR外靶实验终端中CsI(Tl)晶体的测试[J].原子能科学技术,2010,44(B09):435-438. 被引量：1
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10贺三军,赵修良,刘丽艳,曹光辉,练德幸.^(222)Rn/^(220)Rn绝对测量小闪烁室的ZnS(Ag)涂层厚度确定[J].南华大学学报（自然科学版）,2012,26(1):19-23. 被引量：1
