排除彩电无光无声故障的简易方法——测B^+法

下载PDF

导出

摘要无光无声故障是彩色电视机最常见的故障之一。由于此故障涉及到开关稳压电源电路、各种保护电路和行扫描电路,因此检修时很难区分故障部位,特别是初学者往往无从着手。本文介绍一种适合检修国内外各种型号各种规格彩电无光无声故障的简易方法——测 B^+法。

作者李铮

出处《机械与电子》 1991年第2期45-46,共2页 Machinery & Electronics

关键词彩电故障排除测B^+法

1王淑云.B^+离子注入p型Hg_(0.8)Cd_(0.2)Te[J].红外与激光技术,1991,20(6):49-51. 被引量：1
2李铮.用测B^＋法检修无光无声彩电[J].家电维修,1991(2):8-8.
3林育虎,张朝定,等.用离子注入方法实现P型掺杂[J].电子元器件应用,2002,4(10):33-34.
4卢武星,钱亚宏,田人和,王忠烈.MeV高能B^+离子注入Si中二次缺陷的抑制与消除[J].物理学报,1990,39(2):254-260. 被引量：2
5李金华,林成鲁,冒建军,何建军,邹世昌.F^＋＋B^＋双注入浅结研究[J].Journal of Semiconductors,1994,15(10):704-710.
6周继承.Si^+/B^+双注入单晶硅的快速热退火[J].固体电子学研究与进展,1999,19(4):423-427.
7张朝明,卢志恒,张荟星,李素杰,罗晏.B^+和BF_2^+注入预非晶硅所形成浅结的比较[J].北京师范大学学报（自然科学版）,1989,25(1):56-58.
8陈刚,李哲洋,柏松,任春江.Ti/4H-SiC Schottky Barrier Diodes with Field Plate and B^+ Implantation Edge Termination Technology[J].Journal of Semiconductors,2007,28(9):1333-1336. 被引量：2
9庞海舟,阮刚,杨文清,郑国祥,曹永明.B^+、As^+离子注入工艺模拟模型的比较[J].微电子学,1999,29(6):407-412.
10刘家璐,张廷庆,冯建华,周冠山,应明炯.B^+注入HgCdTe快速热退火的研究[J].物理学报,1998,47(1):47-52.

机械与电子

1991年第2期

浏览历史

内容加载中请稍等...