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等离子体发射光谱法测定的应用探析

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摘要用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,和其他化学分析法相比,其克服了常规化学分析法工作量大、耗时长、步骤繁琐、测量准确度低等方面的缺点,显著的提高了工作效率以及测量精度与准确度。文章采用等离子体发射光谱法测定岩石矿物中二氧化硅的含量,试验结果表明,二氧化硅的检出限为0.008 0 mg/L;测定范围为0.023%～9.2%;方法的精密度均〈1.8%。

作者贾燕

机构地区河南省地矿局第二地质勘查院

出处《技术与市场》 2014年第5期122-122,124,共2页 Technology and Market

关键词岩石矿物二氧化硅等离子体发射光谱法

分类号 P575.4 [天文地球—矿物学]

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