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粉拟青霉多代培养后致病力下降规律的研究 被引量:3

Research on Degradation Rule of Affecting Power of Paeilomycos farinosus after Successive Cultures
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摘要 试验证明粉拟青霉 (Paeilomycosfarinosus)在人工培养基上多代培养致病力明显下降。连续培养三代后致病力仅为第一代的 2 8%。在实际应用时 ,人工培养不应超过三代 。 It is proved by experiments that the affecting power of Paeilomycos farimosus degraded significantly after a number of successive culture generations on artificial substrate.The affecting ability of the third generation of Paeilomycos farinosus dropped to 28% of the first generation,and its affecting power should be reinforced by inoculation on worms of Apocheima cinerarium Ershoff.
出处 《新疆农业大学学报》 CAS 2000年第3期48-49,共2页 Journal of Xinjiang Agricultural University
关键词 粉拟青霉 致病力 多代培养 生物防治 真菌 Paeilomycos farinosus affecting power successive culture
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献12

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同被引文献76

引证文献3

二级引证文献11

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