摘要
由于发射光谱,特别是使用ICP光源时、含有众多的光谱线,需要有较高的色散率和分辨率、且波长覆盖范围较宽的分光系统以供使用。特别是对于那些具有复杂光谱基体的样品如镧系、锕系元素、地质样品、黑色金属、高温合金等等来说,使用一般市售一米左右的ICP发射光谱仪时,谱线干扰在所难免,需要用复杂的方法或软件来避免或扣除这类干扰。如果能采用色散率和分辨率都比常规光谱仪高得多、而且有足够的波长覆盖范围和光强的光谱仪。
A critical review on the development of cchelle spectrometers has been made, with emphasis on commercial instruments. The feasibility and analytical potentials of specially designed cross-dispersion echelle instruments with two-dimensional focal planes compatible with modern solid imaging detectors such as CCD and CID are also mentioned.
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1991年第2期61-67,共7页
Spectroscopy and Spectral Analysis
