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通用数字IC芯片功能测试系统被引量：1

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摘要本文介绍了基于IBM PC系列机及其兼客机的通用数字IC功能测试系统。该测试系统为数字系统开发、调试、诊断和维护提供了方便的工具。

作者武显荣

机构地区济南铸锻所

出处《工业仪表与自动化装置》 1991年第5期20-22,共3页 Industrial Instrumentation & Automation

关键词微机功能测试系统集成电路

分类号 TP361.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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工业仪表与自动化装置

1991年第5期

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