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测量断口分维的变分辨率码尺方法 被引量:1

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摘要 本文提出了测量断口分维的变分辨率码尺方法,并利用Weierstrass-Mandelbrot理论分形曲线对变分辨率码尺方法与传统的变码尺方法进行了对比。结果表明,变分辨率码尺方法优于传统的变码尺方法。用扫描隧道显微镜(STM)利用变分辨率码尺方法在纳米惊讶测定了Ti3Al,Ti-24Al-11Ng合金断口的分形维数。断裂表面在纳米尺度上存在分形结构,但不同断裂方向的分形维数不同。Ti-24Al-11Nb合金的分形维数高于Ti3Al合金的分形维数。
出处 《冶钢科技》 1999年第1期65-69,共5页
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