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一种用于CMOS图像传感器集成ADC的性能测试系统 被引量:1

Performance test system for ADC of CMOS image sensor
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摘要 在CMOS图像传感器中,A/D起着"承上启下"的作用,承接前端传来的信号,转换成数字后输出,其性能指标直接影响着整个系统的优劣。随着ADC速度和精度的提高,如何高效、准确地测试其动态和静态参数是ADC测试研究的重点。文中阐述了ADC的参数及其测试的原理和方法,并基于Labview软件和数据采集卡构建了ADC的软硬件测试平台,实现了低成本、高可靠性的高精度ADC计算机辅助测试系统。 In CMOS image sensor, A/D is a connecting link between the preceding and the following, it receives the signals from the front end and convert to digital outputs, its performance influences the whole system directly. With improved speed and precision of ADCs, how to test the dynamic and static performance becomes critical to ADC test research. This paper describes the parameters of ADC and principles and methods of the test, ADC automatic test system based on the Labview and data acquisition card is presented in order to achieve a low cost high reliability computer-aided test system.
作者 徐星 陈世军
出处 《电子设计工程》 2013年第22期191-193,共3页 Electronic Design Engineering
关键词 ADC 直方图 FFT LABVIEW 测试 ADC Histogram FFT Labview test
  • 相关文献

参考文献4

  • 1邓若汉,余金金,王洪彬,徐星,陈世军,陈永平.基于Labview的ADC综合性能测试系统[J].科学技术与工程,2012,20(19):4653-4658. 被引量:10
  • 2须自明,吴俊,黄蕴.ADC测试中INL与THD之间的关系[J].电子与封装,2010,10(7):7-11. 被引量:5
  • 3JENQY C. Measuring harmonic distortion and noise floor of an A/D converter using spectral averaging[J]. IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement, 1988,37(4):525-528.
  • 4LIU Hui,ZHANG Lin,DAN Zhi-gang. Test method for high speed ADC in SOC chip[J]. Electronic Test,2007( 10):48-50.

二级参考文献10

  • 1方穗明,王占仓.码密度法测量模数转换器的静态参数[J].北京工业大学学报,2006,32(11):977-981. 被引量:15
  • 2骆丽娜,杨万全.高速ADC的性能参数与测试方法[J].实验科学与技术,2007,5(1):145-147. 被引量:24
  • 3Maxim.Histogram Testing Determines DNL and INL Errors[P].Application Note 2085.2003.
  • 4Dominique Dallet,Jose Machado da Silva.Dynamic Characterisation of Analoge-to-Digital Converters[M].Springer.2005.
  • 5P.Carbone,E.Nunzi,D.Petri,.Windows for ADC Dynamic Testing via Frequency-Domain Analysis[J].IEEE Transaction on Instrumentation and Measurement,2001,52(6):1571-1576.
  • 6Maxim.Defining and Testing Dynamic Parameters in High-Speed ADCs[P].Application Note 728.2001.
  • 7Jerry Horn.The Relationship between Harmonic Distortion and Integral-Non-Linearity[M].Chipcenter.2000.
  • 8Azais F, Bernard S, Bertrand Y, et al. A low cost BIST architecture for linear histogram testing of ADC . Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, 2001 , 17(2) : 139--147.
  • 9朱彦卿,何怡刚,阳辉,刘美容.一种高速ADC静态参数的内建自测试结构[J].湖南大学学报(自然科学版),2007,34(10):62-65. 被引量:6
  • 10蒋和伦.高速模/数转换器常规参数的动态测试[J].微电子学,2003,33(3):184-186. 被引量:17

共引文献12

同被引文献9

引证文献1

二级引证文献11

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