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一种高频微弱光信号检测实验系统

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摘要本文介绍了一种用于可见红光（６７０ｎｍ）的半导体激光器作光源，光电倍增管（ＰＭＴ）作探测器，进行无配合目标测距，测厚的实验系统，该系统可进行纳瓦量级的高频调制的微弱光信号检测。

作者王金成华家宁

机构地区南京师范大学

出处《光仪技术》 1999年第3期29-32,共4页

关键词半导体激光器光电倍增管无配合目标测距测厚

分类号 TH821 [机械工程—精密仪器及机械]

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光仪技术

1999年第3期

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