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迈克尔逊干涉仪条纹采集和波长测量装置设计 被引量:4

Design of Michelson interferometer fringe′s sampling and wavelength auto-measure device
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摘要 设计了一套基于单片机的迈克尔逊干涉仪条纹的采集和波长自动测量装置。该装置通过光敏传感模块、旋转编码器和单片机处理显示模块实现,滤除了电路噪声,同时可以适应不同的背景光强,具有精确度高、操作简便且可靠等优点。 A device for sampling Michelson interferometer's fringe and auto-measuring wavelength based on mieroeontrollers is introduced in this paper. It is realized by photoconductive sensor module, rotary encoders and single-chip processing display module, filtering out the interfering impulses generated by the circuit noise. The device can be applied to different background light intensity, with the advantages of high accuracy, easy to operation and reliability.
机构地区 南京邮电大学
出处 《微型机与应用》 2013年第17期14-15,18,共3页 Microcomputer & Its Applications
基金 南京邮电大学教改项目(JG00709JX47)
关键词 迈克尔逊干涉仪 单片机 旋转编码器 液晶显示器 Michelson interferometer microcontrollers rotary encoders liquid crystal display
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参考文献5

二级参考文献21

  • 1王,沈乃澂,韦占凯,张志勇,梁燕生.红外激光波长计的原理及其研制[J].现代计量测试,1994,2(3):6-12. 被引量:3
  • 2丁慎训 张连芳.物理实验教程[M].北京:清华大学出版社,1996.225-226.
  • 3B Alipieva, B Stoykova, V Nikolova. Wavemeter with Fizeau interferometer for CW lasers [ A ].In : 11th International School on Quantum Electronics : Laser Physics and Applications [ C ]. Proc.SPIE, 2001 (4397) : 129 ~ 133.
  • 4徐毓光 余勤跃.费索激光波长计[P].中国专利 专利号 : 93112393.3..
  • 5T R Parker, M Farhadiroushan. Femtometer resolution optical wavelength meter [ J ]. IEEE Photonics Technology Letters, 2001, 13(4) : 347 ~ 349.
  • 6Wojciech Skrzeczanowski, Marek Zyczkowski, Andrzej Dlugaszek. Laser wavelength meter—analysis of measurement uncertainties [ C ]. Proc. SPIE Vol. 3745 : 182 ~ 188.
  • 7Advantest. Michelson interferometer[ P ].Number : EP0478801.
  • 8高军毅 陈红兵 丁强.多重标准具游标法及激光波长计[P].中国专利 专利号 : 93104366.2..
  • 9镭射通公司.监视—控制经可变的空间滤光后的激光波长[P].中国专利 专利号 : 98811567.0..
  • 10赵样 程晓辉 李达成.利用合成波长法实现纳米测量的方法[P].中国专利 专利号 : 00109499.8..

共引文献8

同被引文献32

引证文献4

二级引证文献11

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