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基于ARM Cortex-M3的高速误码测试系统设计 被引量:4

Design of High-speed BERT System Based on ARM Cortex-M3
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摘要 误码测试仪是评估通信信道的测试仪器。基于国内高速误码测试仪空缺、国外高速误码仪价格昂贵的现状,提出一种新的基于ARM Cortex-M3微处理器LM3S9B90和10 Gbit/s光收发器SI5040的简易、低廉的高速误码测试系统。经测试,该系统在保持成本低廉的同时还有较好的误码测试性能。 Bit error tester is the main equipment during performance testing communication system. Based on the current situation that domestic high speed bit error tester is scarce and foreign high speed bit error tester is quit expensive, it presents a new simple and cheap high speed bit error test system based on lOGbit/s transceiver and ARM Cortex-M3 microprocessor LM3S9B90. According to the test, the system keeps a well error test performance a- long with low cost.
作者 吴聪 谢虎
出处 《电视技术》 北大核心 2013年第5期196-199,共4页 Video Engineering
基金 信号与信息处理重庆市市级重点实验室建设项目(CSTC 2009CA2003)
关键词 误码测试系统 ARM CORTEX-M3 Si5040 LM3S9B90 bit error test system ARM Cortex-M3 Si5040 LM3SgBgo
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参考文献5

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