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硼微晶玻璃源扩散均匀性的研究 被引量:2

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摘要 研究表面,用片状硼微晶玻璃扩散源在一定的条件下也能形成B-Sis相层,并且只有在预沉积时形成B-Si相层且去掉这一相层进行主扩,才能获得高均匀性硼掺杂。本文研究了不同的工艺条件对扩散均匀性的影响结果。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1991年第2期36-38,共3页 Semiconductor Technology
  • 相关文献

参考文献2

  • 1何维华.硼再分布初始阶段和硼扩工艺均匀性的模拟研究[J]半导体技术,1985(06).
  • 2张爱珍.氮化硼片源扩散下的硅表面机构[J]半导体技术,1979(03).

同被引文献12

引证文献2

二级引证文献2

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