摘要
基于元件的定期检测数据，不确定数据，通过把各检测时刻的元件的试验数据，折合成ｔ时刻下元件的伪试验数据来确定元件的贮存可靠性的置信限。给出的数字例并进行了模拟计算，证实新方法效果偏好，操作方便。
In this paper,we discuss that lower confidence limits of reliability for exponential life type components based on the test data of components at time t i into pseudo test data of components at time t, we also give example and simulating conclusion.
出处
《工程数学学报》
CSCD
北大核心
1999年第4期80-84,共5页
Chinese Journal of Engineering Mathematics
