AlSi中间合金中Si的光电光谱分析法被引量：1

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摘要ＡｌＳｉ中间合金中Ｓｉ的分析一般用化学容量法，此法操作过程繁琐，消耗大量的人力、物力，且分析时间长。ＡｌＳｉ间合金中Ｓｉ的光电光谱分析方法突破了高硅化学法分析的常规。试验中解决了标样、日常标准化控样两大难题，确定了适宜的分析条件，分析结果达到了化学分析的准确度。Ｓｉ的绝对误差为±１－５％，相对误差为６％，完全能满足生产要求。

作者庞淑萍

机构地区东北轻合金有限责任公司

出处《轻金属》 CSCD 北大核心 1999年第11期56-58,共3页 Light Metals

关键词中间合金硅含量光电光谱分析铝硅合金

分类号 TG146.21 [金属学及工艺—金属材料]

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