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电路结构特殊点及可测性研究

Research on Some Structurally Particular Line and Testability in Circuits
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摘要 电路结构上一些特殊点对于电路的测试影响很大,通过对电路结构上一些特殊点的性质、作用、它们之间的相互关系,以及电路结构可测性与这些点的关系进行研究,按照它们的作用大小进行排序,从而加快确定性测试码的生成速度,减少回溯次数和缩短回溯时间,提高其可测性。 A circuit structure for some special points on the test has a great influence, through the discussion of the characteristics, effects and relations of some structurally special points in circuits, sorts them in order of effect, speeds up the deterministic test code generation speeds, and reduces the number of backtracking and shorters review times and improves testability.
作者 刘志强
出处 《现代计算机》 2011年第5期50-52,共3页 Modern Computer
关键词 特殊点 必取值 可测性 Special Points Necessary Assignment Testability
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献4

  • 1Feng Lin,Int J Circuit Theory Appl,1997年,25卷,81页
  • 2Feng Lin,Proceeding of 36th Midwest Symposium on Circuit and Systems IEEE,1993年,344页
  • 3魏道政.组合电路故障模拟的平行临界路径跟踪法[J]计算机学报,1988(07).
  • 4石茵,魏道政.时序电路故障模拟的临界跟踪法[J]计算机研究与发展,1988(07).

共引文献12

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