集成电路测试的JTAG标准

下载PDF

导出

摘要 1.引言随着集成工艺的飞速发展,芯片集成度越来越高。

作者梁军杰

机构地区解放军信息工程学院

出处《今日电子》 1999年第2期11-12,共2页 Electronic Products

关键词 IC 测试 JTAG标准

1石新峰,冯广森.边界扫描技术的原理及其在数字系统测试中的应用[J].河南机电高等专科学校学报,2003,11(4):58-58.
2于川,林建明.MACH器件的JTAG标准及ISP技术[J].电子产品世界,1996,3(10):68-69.
3郭俊杰.JTAG接口下载线的制作[J].电子世界,2004(5):57-57.
4颜学龙,何正亮,陈寿宏.基于IEEE 1149.7标准的多TAPC芯片的测试和调试技术研究[J].微电子学与计算机,2016,33(12):71-74. 被引量：2
5吴兰臻,樊桂花.基于BST技术的ASIC设计[J].测控技术,2001,20(6):44-45.
6倪军,杨建宁.基于边界扫描技术的数字系统测试研究[J].电子技术应用,2006,32(9):107-110. 被引量：4
7王维英,姜岩峰.基于JTAG标准的电流模A/D转换器可测试性设计[J].微电子学,2007,37(4):466-469. 被引量：2
8徐宇杰,梁利平.基于JTAG的DSP调试系统的设计[J].电子测量技术,2009,32(5):108-110.
9新型RapidIO器件实现高速灵活网络交换[J].电子设计技术 EDN CHINA,2006,13(7):36-36.
10倪军,杨建宁,成立,徐丽红.VLSI边界扫描测试故障诊断及其策略研究[J].半导体技术,2006,31(8):583-587. 被引量：2

今日电子

1999年第2期

浏览历史

内容加载中请稍等...