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氧在GaAs/GaInP/AlGaInP中的SIMS分析

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摘要 用SIMS对用于可见光激光器研制的GaAs/GaInP/AlGaInP材料系统进行了测试分析。适当选择质量特征峰,不仅清晰地展示出这种材料系统的结构,而且对非有意掺入的有害杂质氧进行监测,及时发现了工艺系统中的气和源的质量问题。对在不同实验条件下制备的多批样品的SIMS分析表明,氧含量的判别在一个数量级以上,氧含量的高低直接影响激光器的性能指标和寿命。为改进工艺和源的质量提供了可靠的依据。
出处 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 1998年第A12期116-120,共5页 Vacuum Science and Technology
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参考文献5

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共引文献3

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