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低成本半导体测试系统针对8/16位MCU成品测试

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摘要受到半导体市场低迷情势的影响，半导体测试设备市场也进入了持续下降时期。高端半导体测试设备供应商惠瑞捷公司，在此时期选择迈进低端设备市场，推出新型测试系统V101，为低端客户提供低成本的产品选择和更为完整的测试解决方案。

作者郭晶

出处《电子设计技术 EDN CHINA》 2009年第9期20-20,共1页 EDN CHINA

关键词半导体测试 ATE MCU

分类号 TN307 [电子电信—物理电子学] TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

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电子设计技术 EDN CHINA

2009年第9期

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