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自参考剪切干涉技术中屏倾斜对检测精度的影响

Influence of an Inclined Screen on Measuring Accuracy of Self-reference Shearing Interferometric Technique
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摘要 本文从理论和实验上分析了屏倾斜对自参考剪切干涉条纹宽度及其夹角大小的影响。提出了进一步提高其检测精度的具体措施和方法。 The influence of an inclined screen on interference stripe of self-reference shearing interferometer have beed studied in bothexperiments and theory. And a simple method for improving measuring accuracy is presented.
出处 《量子电子学报》 CAS CSCD 1998年第4期398-402,共5页 Chinese Journal of Quantum Electronics
关键词 剪切干涉 准直检测 楔形平板 shearing interferometer, collimtion testing, wedge plate
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参考文献2

  • 1赵明山,SPIE.2321,1994年,182页
  • 2Lee Y W,Opt Eng,1993年,32卷,11期,2837页

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