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AFM研究Sol-Gel法制备的TiO_2和Al_2O_3-TiO_2-SiO_2涂膜表面形貌 被引量:3

Study of the Surface Topography of TiO 2 andAl 2O 3 TiO 2 SiO 2 Coatings on Glass with Atomic Force Microscopy
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摘要 载玻片在金属醇化物的溶胶中浸涂、热处理,获得厚度为50~90nm的TiO2和XAl2O3-YTiO2-ZSiO2涂膜(X=0~30,Y=0.25~0.60,Z=0.20~0.65,摩尔分数)。使用原子力显微镜(AFM)研究涂膜表面纳米范围的形貌。研讨了化学组成,热处理温度与时间,以及热处理前或后的贮存史对表面形貌,rms-均方根粗糙度和锐钛矿结晶的影响。 TiO 2 and X Al 2O 3 Y TiO 2 Z SiO 2 coatings( X =0 ̄0.30, Y =0.25 ̄0.60, Z = 0.20  ̄0.65 molar fraction) with thickness of 50 ̄90nm were prepared on microscope glasses by dip coating using an alkoxide base sol gel method. Their surface nanoscale topography was studied using atomic force microscopy(AFM). The effects of chemical compositions, heat treatments and the storage process in air before and after the heat treatment on the surface topography, the rms roughness and the crystallization of anatase were studied and discussed.
作者 杜永娟
出处 《华东理工大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 1998年第4期453-457,466,共6页 Journal of East China University of Science and Technology
关键词 表面形貌 玻璃 涂膜 溶胶-凝胶法 原子力显微镜 surface nanoscale topography TiO 2 coatings Al 2O 3 TiO 2 SiO 2 coatings atomic force microscopy crystallization of anatase sol gel method
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