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潜在电路分析软件CapFast/SCAT研究与开发——潜在电路分析之三 被引量:3

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摘要 介绍了航天总公司可靠性与安全性研究中心最近引进的美国潜在电路分析软件CapFast/SCAT。在初步消化了解的基础上,对如何利用该软件促进航天领域内该项技术的继续研究和在重点型号的推广应用,进行了探讨。
作者 任立明
出处 《质量与可靠性》 1998年第4期28-32,共5页 Quality and Reliability
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