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一种利用等离子体X射线激光输出对称性测量X射线多层膜镜反射率的方法

A Novel Way of Measuring the Multilayer Reflectivity Utilizing the Symmetrical Output of XRL in Plasma
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摘要 从理论上论证了利用平板靶X射线激光两个输出端光强对称的特性来测量X射线多层膜镜反射率的测量方法.针对实验布局中等离子体对X射线激光吸收可能造成测量误差的情况,以保证测量结果千分之一的精确度为基准,从理论上计算获得该方法对不同波长X射线激光的实验布局要求.并依此要求对制得的Mo/Si、Mo/Mg镜的反射率进行了实验测量. A novel way of measuring the reflectivity of multilayer was proposed. Utilizing the symmetrical output of the X-ray laser in slab laser-plasma, the reflectivity could be conveniently obtained in this way. It was also given the setup parameters by calculation according to the demand of precise considering the absorption of X-ray laser by plasma. Under which an experiment of measuring the reflectivity of Mo/Si and Mo/Mg was carried out.
作者 程涛 黄文忠 孟立民 李英骏 赵静 张杰
机构地区 中国矿业大学 中科院物理研究所光物理实验室 中国工程物理研究院激光聚变中心
出处 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第11期2288-2291,共4页 Acta Photonica Sinica
基金 国家自然科学基金(10474137) 国家973(2007CB815105) 教育部博士点基金(20070290008)资助项目
关键词 等离子体 X射线激光 多层膜反射镜 反射率测量 吸收 Plasma X-ray laser Multilayers Reflectivity Absorption
分类号 O53 [理学—等离子体物理]
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共引文献33

光子学报
2008年 第11期

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