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用于高分辨率领域的线性角编码器
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摘要
在超精密测量和控制技术中,越来越要求测量步长达1nm,角分辨达0.001角秒。为达到如此高的分辨率,测量标准需有很小的栅格周期,只有用干涉方法才能扫描到它。本文通过一个信号周期为128nm、分辨率为1nm的线性角编码器,介绍了不同扫描原理的各种结果。
作者
A.Spies
吴书友
机构地区
DR.JOHANNES HEIDENHAIN GmbH
出处
《国防科技参考》
1997年第3期87-89,共3页
关键词
干涉仪
线性角编码器
分辨率
光栅干涉仪
测量
分类号
TH744.303 [机械工程—光学工程]
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国防科技参考
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