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X取样方法的研究和应用(一)——测量几何条件的最佳化 被引量:6

Study and Applications of X-ray Sampling Method (I)——Optimizing on Geometry Effect
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摘要 本文首次从理论上探讨了X取样方法中的几何效应影响(实质是源样距变化影响),导出了理论方程。以此为基础,通过理论计算和实验验证,提出了克服几何效应影响的三项技术措施。实验证明,应用这些技术措施可取得令人满意的效果。 Geometry effect in X-ray sampling has been investigated theoretically for first time. A set of theoretical equations about geometry effect has been developed. With theoretical calculations an'd experiments , three technical steps based on results of theoretical investigation are proposed to correct geometry effect. Experiments have proved that these steps are satisfactory for correcting geometry effect.
机构地区 成都地质学院
出处 《核电子学与探测技术》 CAS CSCD 北大核心 1990年第1期12-17,共6页 Nuclear Electronics & Detection Technology
关键词 X取样法 X射线 探矿 X取样 测量 X-ray sampling, Optimizing geometry effect
  • 相关文献

参考文献1

  • 1章晔,周四春,谢庭周,葛良全,李任寅,滕绍珠,李健勇,苏亚汝.应用轻便型X射线荧光仪在原生产状下测定锡品位——代替刻槽取样[J]矿产与地质,1988(04).

同被引文献189

引证文献6

二级引证文献51

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