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测试综合技术的发展

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摘要简要介绍了测试综合的概念，实现测试综合的两种设计流程以及目前国际上常用的测试综合工具的特点。

作者曾平英毛志刚叶以正

机构地区哈尔滨工业大学微电子中心

出处《微电子学》 CAS CSCD 北大核心 1997年第3期190-195,共6页 Microelectronics

关键词集成电路可测性设计测试综合测试工具

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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微电子学

1997年第3期

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