摘要
为了提高半导体光放大器(SOA)增益系数谱测量的准确性,减少光谱仪分辨率和系统噪声对测量结果的影响,提出了由传统的Hakki-Paoli(HP)方法改进得到的基于小波去噪和去卷积过程的Hakki-Paoli(HP-DD)方法,分析了其原理,并给出去卷积的算法和小波去噪的原理。在数值模拟中,对模拟的放大自发辐射(ASE)谱进行处理,表明HP-DD方法能较大程度地改善增益系数谱的测量准确度。在实验中,通过对半导体光放大器的放大自发辐射谱进行实际测量,分别用HP-DD方法和HP方法求得增益系数谱,验证了HP-DD方法的测量结果的精确度有很大程度的改善。
For improving the measurement precision and avoiding the influence of the optical spectrum of the gain coefficient of semiconductor optical amplifier （SOA） analyzer＇s resolution and noise, a Hakki-Paoli （HP） method combined with the wavelet denoise and deconvolution （HP-DD） process was presented. The HP-DD principle including deconvolution algorithm and wavelet denoise was analyzed. Based on the simulated amplified spontaneous emission （ASE） spectrum and measured ASE spectrum, wavelet denoise and deconvolution process were demonstrated to improve the precision of the measurement and the noise tolerance.
出处
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2007年第6期846-850,共5页
Chinese Journal of Lasers
基金
国家863计划(2006AA03Z0414)
国家自然科学基金(60407001)
教育部新世纪人才支持计划(NCET-04-0715)资助项目
