摘要
提出了一个同步时序电路故障模拟的方法，它采用了并行码模拟与并行故障模拟算法，吸收了锥形操作、并行Ｓｔａｒ算法、全局级化和全局故障分组等技术的优点．为了验证这种方法的效率，ＳＵＮＳＰＡＲＣ２工作站上实现了一个高性能的故障模拟器（ＨＳＩＭ），并把ＨＳＩＭ的实验结果和其他故障模拟器ＰＡＲＩＳ、ＴＯＲＳＩＭ作了比较．对于大型同步时序电路，ＨＳＩＭ的平均单码模拟速度是ＴＯＲＳＩＭ的１．８倍。
出处
《上海交通大学学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第3期37-40,共4页
Journal of Shanghai Jiaotong University
关键词
故障诊断
VLSI
同步时序电路
故障模拟器
parallel pattern simulation
parallel fault simulation
fault simulation
test generation
