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电镜标本包埋中几种常见问题的处理 被引量:2

Methods of Resolving Common Embedding Problemes for Electron Microscopy
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摘要 本文介绍两种简单、行之有效的解决Epon 812包埋问题的补救方法,并能出导致这些问题的原因。 Re-embedding and baking-freezing, the two simple, effective methodS of resolving Epon 812 embedding problems, are described in this article. The reasons of causing the problemes are also mentioned.
出处 《电子显微学报》 CAS CSCD 1989年第3期77-78,共2页 Journal of Chinese Electron Microscopy Society
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