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正电子湮没技术(PAT)的开发与应用(四)——正电子湮没寿命谱仪与计算机之间数据双向通讯
被引量:
1
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摘要
谱仪的分辨率是表示仪器质量高低的一个重要参量.在正电子湮没寿命谱的测试中,分辨率的大小对寿命谱分析影响较大,因而需要经常测量仪器的分辨函数,以监测时间分辨率,而且要求计算精确.
作者
万玉金
朱育群
伍德勇
蒋骏
张逊
出处
《电子器件》
CAS
1990年第2期12-16,共5页
Chinese Journal of Electron Devices
关键词
正电子湮没
寿命谱仪
程序
分类号
TM93 [电气工程—电力电子与电力传动]
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王顺,李琼,林成鲁.中子辐照单晶硅与激光退火制备SOI结构的研究[J]中国激光,1988(11).
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熊兴民.中子辐照氢气区熔硅单晶退火行为的正电子湮没研究[J]半导体学报,1986(01).
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朱育群,蒋骏,张逊,万玉金,刘彩池.
用正电子湮没技术研究中子辐照直拉硅退火效应[J]
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万玉金,朱育群,吴敬东,黄碧璇.
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.电子器件,1990,13(2):29-34.
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张金仓,刘军政.
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路庆凤,胡艳春,张星,徐勇光,张芹,李喜贵.
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