低温微电子器件和电路的研究前沿
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1990年第1期36-38,共3页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
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1郑茳,魏同立,童勤义.低温微电子器件、电路和系统[J].大自然探索,1991,10(4):33-41. 被引量：3
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2郑茳,魏同立,冯耀兰,孟江生.低温微电子器件和电路——低温 MOS 器件的研究[J].低温与超导,1989(3):12-22.
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3郑茫,魏同立,童勤义.低温微电子器件、电路和系统[J].电子器件,1991,14(4):18-28.
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