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光盘母盘平整度检测的研究

Study on CD Stamper flatness measurement based on single chip system
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摘要 本文叙述了用四象限光电探测器、MCS-51兼容单片机和12bit A/D转换器MAX120为主构成的光盘母盘平整度检测仪,在计算机上用Visual Basic和MATLAB软件对测试数据进行处理、分析,实现了光盘母盘平整度的自动化测量。 This paper presents a flatness-measuring instrument for CD Stamper. The instrument is based on quadrant detector,single chip system and A/D transform circle. Computer process the measured data with the Visual Basic and Matlab program. Thus, an automatic measurement for flatness of the CD Stamper is carried out.
出处 《应用激光》 CSCD 北大核心 2006年第3期160-162,共3页 Applied Laser
关键词 光盘母盘 平整度 光电检测 单片机 compact disk stamper Flatness opto-electro measurement single chip
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