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热处理对环境半导体材料β-FeSi_2形成的影响 被引量:2

The Effect of Annealing Temperature on the Formation of Environmental Semiconductor Material β-FeSi_2
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摘要 作者对采用非质量分离离子束注入沉积法(IBD)在Si(100)上制备的β-FeSi2薄膜进行了研究,通过X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)以及原子力显微镜(AFM)分析表明:当退火温度在600℃和700℃附近时有利于β-FeSi2的形成。 β-FeSi2 thin films on Si (100) by Non-mass-separated ion beam deposition(IBD) method were investigated. X-ray Diffraction and SEM and AFM analysis shows: The best β-FeSi2 thin films were obtained when the annealing temperature close to 6000C or 7000C.
出处 《贵州大学学报(自然科学版)》 2006年第1期81-85,共5页 Journal of Guizhou University:Natural Sciences
基金 湖南省教育厅青年基金(03B006) 湖南省自然科学基金(04JJ3030) 国家人事部留学归国人员择优资助项目(200403) 贵州省教育厅重点基金(05JJ002) 贵州大学人才引进基金资助项目(04RCJJ001)
关键词 环境半导体材料 Β-FESI2 IBD 退火温度 Environmental semiconductor material β-FeSi2 Annealing temperature IBD
  • 相关文献

参考文献12

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共引文献3

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引证文献2

二级引证文献2

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