摘要
作者对采用非质量分离离子束注入沉积法(IBD)在Si(100)上制备的β-FeSi2薄膜进行了研究,通过X射线衍射(XRD)和扫描电镜(SEM)以及原子力显微镜(AFM)分析表明:当退火温度在600℃和700℃附近时有利于β-FeSi2的形成。
β-FeSi2 thin films on Si (100) by Non-mass-separated ion beam deposition(IBD) method were investigated. X-ray Diffraction and SEM and AFM analysis shows: The best β-FeSi2 thin films were obtained when the annealing temperature close to 6000C or 7000C.
出处
《贵州大学学报(自然科学版)》
2006年第1期81-85,共5页
Journal of Guizhou University:Natural Sciences
基金
湖南省教育厅青年基金(03B006)
湖南省自然科学基金(04JJ3030)
国家人事部留学归国人员择优资助项目(200403)
贵州省教育厅重点基金(05JJ002)
贵州大学人才引进基金资助项目(04RCJJ001)