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控制处理系统抗辐射容错 被引量:1

The Control and Processing System Anti-radioactive Fault-tolerant
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摘要 文中针对解决辐射环境中的单粒子翻转威胁,着重探讨采用硬件冗余的容错设计方法,提高控制处理系统的可靠性。 To solve the problem of single event upset in the radioactive environment, In this article the fault-tolerant methods of hardware redundancy to imprve reliability of control and processing system are discussed.
作者 陈光重 李东
出处 《电子测量技术》 2005年第4期30-31,共2页 Electronic Measurement Technology
关键词 单粒子翻转 容错 硬件冗余 处理系统 控制 抗辐射 辐射环境 设计方法 可靠性 威胁 single event upset (SEU) fault-tolerant hardware redundancy
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