透射电子显微镜样品制备技术(一)——薄膜样品制备技术被引量：6

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摘要 1 前言透射电子显微镜的研究工作能否顺利地达到预期目的,也就是说所观察的样品是否有足够的薄区并能反映大块材料中的微观结构和获得好的透射电镜照片,其关键就是能否具有好的透射电镜样品。因此,寻求理想的样品制备技术是至关重要的。目前制备金属薄膜样品应用最广泛的是双喷电解抛光技术;对于脆性或非导电性质的材料多应用离子减薄技术,本文就此两顶技术讨论如下。

作者马淑波

机构地区中国科学院金属研究所

出处《物理测试》 CAS 1995年第1期42-45,共4页 Physics Examination and Testing

关键词金属材料薄膜 TEM 试样制备

分类号 TG115.211 [金属学及工艺—物理冶金]

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