摘要
文章叙述了吸光光度法测量核靶厚度和均匀性的一般原理,并给出碳膜和金属膜的具体测量方法,本方法的厚度测量范围为5—200μg/cm^2,测量精度为10%。
A method for measuring the thickness of thin targets with a spectrophotometeris described. The principle of the method and the instrument used are mentioned.The relation between thickness and absorption for carbon, gold and copper foilsare given.
出处
《原子能科学技术》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1989年第1期32-36,共5页
Atomic Energy Science and Technology
