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氦质谱正压检漏被引量：2

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摘要对氦质谱正压检漏的一般技术要求，如被检系统的包封、积累时间、探测时间及定量系统的校准、使用等做了介绍。

作者郭君强梁进忠李树德

机构地区首都航天机械公司

出处《航天工艺》 1995年第2期34-37,共4页

关键词氦质谱正压检漏质量控制检测检漏

分类号 TB774 [一般工业技术—真空技术]

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航天工艺

1995年第2期

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