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电力半导体器件结温的计算和测试 被引量:5

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摘要 一、引言 电力半导体器件是高发热的电子产品,产品寿命和正常工作与产品工作结温(T_j)是否超过允许的最高结温(T_(jm))密切有关。T_(jm)是器件的重要额定值,是综合性技术和质量水平指标,器件其他很多重要技术指标都是通过T_(jm)来体现和保证的。因而正确理解、计算、准确测试对于从事电力半导体器件研究、生产、检验和应用都是必要的。
作者 秦贤满
出处 《电工技术杂志》 1995年第4期22-24,共3页 Electrotechnical Journal
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