IEC标准与ESD抗扰度实验方法研究被引量：6

Study on IEC Standard and ESD Immunity Testing Method

下载PDF

导出

摘要对ESD抗扰度实验方法和2种ESD模拟器进行了系统的研究,发现IEC61000-4-2标准规定的静电放电抗扰度实验方法和实验用的ESD模拟器存在严重的问题.针对这些问题并结合当前国外学者研究的有关结论,研制了一种更符合实际需要的ESD抗扰度栓测试验方法和实验装置.利用新研制的实验平台对瑞士Schaffner公司制造的NSG435 ESD模拟器和日本Noiseken公司制造的ESS-200AX ESD模拟器进行了比较研究,对模拟器内部高压继电器动作产生的辐射场造成实验结果偏差问题进行了测试分析.利用该实验装置分别以手动控制模拟平台可以有效地控制空气放电的重复性.

作者刘尚合徐晓英

机构地区军械工程学院静电与电磁防护研究所武汉理工大学静电技术研究所

出处《军械工程学院学报》 2005年第1期1-6,共6页 Journal of Ordnance Engineering College

基金国家自然科学基金，中国科学院资助项目

关键词静电放电抗扰度实验 IEC标准实验方法

分类号 O441.1 [理学—电磁学]

引文网络
相关文献

参考文献13

1陆剑侠,王效平,苏舟.微电子技术的发展趋势与展望[J].微处理机,1999,20(1):1-7. 被引量：4
2李云李玉兰.静电放电产生的干扰特性及对航天电子设备的影响[A]..见:第三届全国电磁兼容学术会议论文集[C].北京:北京邮电大学出版社,1990.227-230.
3Rhoades W, Mass J. New ANSI ESD standard overcoming the Deficiencies of worldwide ESD standards [ J ].IEEE International on Electromagnetic Compatibility,1998, (2): 1078-1082.
4微波武器将用于未来的战争[J].黄裕年[J].研究与发展,1998,(1):29-31.
5竺家亨.美国加紧发展非致命性武器.高功率微波技术,1999,(2):32-44.
6Chundru Ramachandran, Pommerenke David, Wang Kai.Characterization of human metal ESD reference discharge event and correlation of generator parameters to failure levels- part Ⅰ: reference event [ J ]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2004, 46 (4): 498-504.
7Wang Kai, Pommerenke David, Chundru Ramachandran,et al. Characterization of human metal ESD reference discharge event and correlation of generator parameters to failure levels--Part Ⅱ: Correlation of generator parameters to failure levels [ J ]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2004, 46 (4): 505 - 511.
8Rowe M. Check ESD simulators for radiated EMI [ J ].Test & Measurement World, 1995, (6): 15 - 16.
9Hall K, McCarthy D, Dale D, et al. Steps taken to determine why different IEC61000 -4 -2 ESD generators produce different results [ C]. In: Proc. Int. Zurich Symp. EMC, Zurich, 1997: 105-108.
10Zhang Xijun, Ruan Xiaofen, Liu shanghe. Study on the effects of relay switch of ESD simulator to ESD immunity test [ A ]. In: Proc. Asia - Pacific Conference on Environmental Electromagnetic [ C ], Hangzhou: China.2003. 229 - 232.

二级参考文献9

1李栓庆.下世纪初微电子机械系统的发展[J].半导体情报,1997,34(2):11-22. 被引量：3
2邵虞.穆尔定律，B／B值和硅周期评价[J].电子产品世界,1996,(10):6-7.
3汤庭熬.面向21世纪微电子发展预测和一些关键技术介绍.第一届半导体与集成电路成品率研讨会[M].,1997,11..
4施锦行.21世纪的硅器件及其新工艺[J].半导体技术,1997,13(2):8-10. 被引量：1
5王毅.MCM的应用前景[J].混合集成技术,1997,8(2):16-30. 被引量：1
6蒋建飞,蔡琪玉.纳米电子学──电子学的前沿[J].固体电子学研究与进展,1997,17(3):218-226. 被引量：6
7韩述斌,祝瑞玲.微电子技术纵横谈——纪念晶体管诞生50周年[J].半导体技术,1997,13(6):58-61. 被引量：2
8薛舫时.量子阱控制极和异质谷间转移电子三极管初探[J].半导体杂志,1997,22(4):1-8. 被引量：1
9DanStanzione.硅技术的极限[J].电子科技导报,1998(2):2-4. 被引量：3

共引文献4

1李刚,赵月飞,刘尚合,刘昆仑.超宽谱电磁脉冲对无线电引信的辐照效应和防护加固研究[J].军械工程学院学报,2006,18(6):45-49.
2段玉岗,丁玉成,卢秉恒,王立永.集成电路芯片(IC)压印光固离子刻蚀法研究[J].机床与液压,2004,32(12):7-9. 被引量：1
3张肇昕.微电子技术的系统组成及应用研究[J].西安通信学院学报,2020,15(4):76-77. 被引量：1
4葛仁华,耿丽,杨永昌.集成电路设计制造技术的发展分析[J].微电子技术,2003,31(6):5-8. 被引量：5

同被引文献138

1雷磊 ,原亮 ,刘尚合 ,艾云平 .一种用于ESD测试的PLC单轴运动控制台研究[J].军械工程学院学报,2005,17(1):7-10. 被引量：3
2徐晓英,刘尚合,武占成,雷磊,张希军,魏明.IEC61000-4-2规定的实验平台与方法的局限性[J].高电压技术,2005,31(6):32-35. 被引量：4
3贺其元,刘尚合,陈京平,武占成.对空气式静电放电的研究[J].高电压技术,2006,32(7):72-75. 被引量：8
4雷磊,周永平,张宝华,彭炜.ESD对电子设备的危害及防护[J].装备环境工程,2007,4(2):81-84. 被引量：10
5贺其元,刘尚合,徐晓英,王韶光,陈京平.接近速度对空气静电放电特性的影响[J].强激光与粒子束,2007,19(3):524-528. 被引量：9
6Lee J C, Croft G D. Modeling and measurement approaches for electrostatic discharge in semiconductor devices and ICs: an o- verview[J]. Microeleetronic Reliability, 1999, 39(5): 579-593.
7Ott H W. Noise reduction techniques in electronic systems[M]. 2nd ed. New York, USA: John Wiley and Sons, 1988.
8Wilson P F, Ma M T. Fields radiated by electrostatic discharges [J]. IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 1991, 33 (1): 10-18.
9He Qiyuan, Liu Shanghe, Chen Jingping. Study on frequency spectrum of air electrostatic discharge[C]//Proceedings of Asia- pacific Conference on Environmental Electromagnetics. Dalian, China:[s. n. ], 2006: 43-48.
10IEC 61000-4-2 international standard[S]. Geneva, Switzer- land: International Electro-technical Commission, 2001.

引证文献6

1贺其元,刘尚合,陈京平.静电放电及其抗扰度试验的研究现状与发展趋势[J].军械工程学院学报,2005,17(4):1-9. 被引量：4
2贺其元,刘尚合,孙国至,陈京平.ESD发生器开关动作对抗扰度试验的影响[J].高电压技术,2007,33(6):93-96. 被引量：5
3贺其元,刘尚合,王庆国,武占成.空气式静电放电规律研究和理论建模[J].河北大学学报（自然科学版）,2007,27(6):561-565. 被引量：3
4贺其元,刘尚合,施荣绪.空气间隙固定和连续变化时的空气静电放电事件研究[J].高电压技术,2011,37(7):1746-1751. 被引量：6
5徐晓英,甘瑛洁,浦实,徐朕,冯婉琳,黄为.ESD防护器件HMM和TLP测试方法及性能评价[J].高电压技术,2017,43(4):1348-1353. 被引量：8
6张燕奇,赵春燕,高攸纲.PESD测试中静电枪表现的性能的研究[J].环境技术,2014,32(S1):191-194. 被引量：2

二级引证文献27

1云建华,刘继伟,王河,呼和,刘红霞,韩慧.一种新型电荷量计量标准装置介绍及主要参数的测量不确定度评定[J].工业计量,2024,34(S01):183-187.
2李珊.以学习求发展——“创建学习型公共组织”座谈会综述[J].中国行政管理,2002(12):74-74. 被引量：4
3黄耀华.对电子控制式燃气热水器静电放电(ESD)抗扰度的研究与讨论[J].家电科技,2006(9):41-44.
4潘长清,于志鹏.电子产品的静电放电危害及其测试[J].仪器仪表标准化与计量,2008(5):8-10. 被引量：5
5吴勇,刘国红,顾立娟,廖乙洁.ESD模拟器间接放电实验重复性研究[J].四川兵工学报,2010,31(9):51-53.
6吴勇,刘国红,顾立娟,廖乙洁,原青云.空气式静电放电的实验分析[J].高电压技术,2011,37(1):131-135. 被引量：13
7王铮,王建伟.解析ISO 10605:2008[J].安全与电磁兼容,2010(3):12-14. 被引量：2
8贺其元,刘尚合,施荣绪.空气间隙固定和连续变化时的空气静电放电事件研究[J].高电压技术,2011,37(7):1746-1751. 被引量：6
9刘进,陈永光,谭志良,李名杰.静电放电电磁场的特性及分布规律[J].高电压技术,2012,38(2):435-443. 被引量：43
10刘卫东,刘尚合,胡小锋,魏明.静电放电近区辐射电场的时域测试与实验分析[J].高电压技术,2012,38(9):2259-2265. 被引量：7

1刘尚合,徐晓英,贺其元.微电子系统的静电放电抗扰度实验方法研究[J].北京理工大学学报,2005,25(z1):72-76. 被引量：7
2阮晓芬,张希军,唐伟.ESD模拟器的应用研究[J].兵工自动化,2006,25(3):83-84.
3原青云,刘尚合,吴勇,武占成,杜祥民.静电放电抗扰度试验方法存在的问题及相关研究[J].军械工程学院学报,2008,20(4):58-62. 被引量：3
4钱振宇.基础性的静电放电抗扰度测试标准[J].船电通讯,1996(4):16-20. 被引量：1
5张希军,武占成,阮晓芬,王书平.静电放电模拟器辐照效应实验研究[J].军械工程学院学报,2003,15(3):7-10. 被引量：2
6徐晓英,刘尚合,武占成,雷磊,张希军,魏明.IEC61000-4-2规定的实验平台与方法的局限性[J].高电压技术,2005,31(6):32-35. 被引量：4
7原青云,刘尚合,吴勇,杜祥民.静电放电抗扰度试验中辐射场若干特性的试验研究[J].军械工程学院学报,2009,21(1):34-37. 被引量：3
8徐晓英,李庆容,李琼丽,张希军.对耦合板间接静电放电辐射场的数值分析[J].河北大学学报（自然科学版）,2007,27(6):577-580. 被引量：3
9徐晓英,管琼,刘尚合,张希军,雷磊.静电放电与电子设备电磁耦合关系的实验研究[J].武汉理工大学学报（交通科学与工程版）,2005,29(4):534-537. 被引量：2
10胡祥发,张发现,陈白玫.关于“误差与偏差”问题的讨论[J].大学物理实验,2002,15(2):57-59.

军械工程学院学报

2005年第1期

浏览历史

内容加载中请稍等...

IEC标准与ESD抗扰度实验方法研究被引量：6

参考文献13

二级参考文献9

共引文献4

同被引文献138

引证文献6

二级引证文献27

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史

IEC标准与ESD抗扰度实验方法研究 被引量：6

参考文献13

二级参考文献9

共引文献4

同被引文献138

引证文献6

二级引证文献27

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史

IEC标准与ESD抗扰度实验方法研究被引量：6