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半导体电磁脉冲防护器件性能测试被引量：1

The Performance Test for EMP Protective Devices of Semiconductor

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摘要本文概述了半导体电磁脉冲防护器件的作用和性能,对表征电磁脉冲防护性能的参数及其测试方法进行详细的叙述和分析;并对应用时器件参数的选择作了讨论。

作者周绍文

机构地区上海半导体器件研究所

出处《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 1989年第12期45-50,共6页 Microelectronics & Computer

关键词半导体电磁脉冲防护器件 TVP

分类号 TM588.12 [电气工程—电器]

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微电子学与计算机

1989年第12期

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